Методы структурного анализа материалов и контроля качества деталей
Батаев В.А., Батаев А.А., Алхимов А.П.
От издателя:В пособии рассмотрены физические основы электронно-микроскопического, рентгеноструктурного, спектрального, микрорентгеноспектрального, магнитного, акустического методов контроля структуры материалов и качества изготовленных из них деталей. Проанализированы методы выполнения исследований, приведены требования, предъявляемые к объектам исследований. Описаны принципы действия и устройство приборов, используемых для реализации методов, в том числе растрового и трансмиссионного электронного микроскопов, туннельного микроскопа, приборов спектрального, магнитного и акустического контроля.Для студентов и преподавателей технических вузов.
Rok:
2007
Wydawnictwo:
Флинта, Наука
Język:
russian
Strony:
221
ISBN 10:
5020348112
ISBN 13:
9785020348110
Plik:
DJVU, 4.35 MB
IPFS:
,
russian, 2007
Litres
Chcesz dodać księgarnię? Skontaktuj się z nami na support@z-lib.do
Konwertuj pliki
Więcej wyników wyszukiwania
Inne korzyści 
